服務熱線

      13810233784
      網站導航
      產品展示
      當前位置:主頁 > 產品展示 > 光度色度 > 膜厚測試產品
      • 半導體膜厚測試儀
        半導體膜厚測試儀
        半導體膜厚測試儀-OPTM 測量目標膜的絕對反射率,實現高精度膜厚和光學常數測試! (分光干渉法)
        更新時間:2024-04-03    訪問次數:1710
        查看詳情
      共 1 條記錄,當前 1 / 1 頁  首頁  上一頁  下一頁  末頁  跳轉到第頁 

      2024 版權所有 © 先鋒科技(香港)股份有限公司  備案號: sitemap.xml 管理登陸 技術支持:化工儀器網

      地址:香港灣仔駱克道301-307號洛克中心19樓C室 傳真: 郵件:lina-he@zolix.com.cn

      關注我們

      服務熱線

      掃一掃,關注我們

      一级做a爰全过程免费视频毛片_日韩亚洲制服丝袜中文字幕_国产高清在线看AV片_久热爱精品视频线路一