光譜式亮度計可以準確、簡易測量顯示面板光源亮度及色度值。關鍵參數包含亮度，CIE xy，Yxy，u'/ v'，GAMMA校正，白平衡調整等。整體量測速度快，精度高，能滿足智能手機、電視機、微型顯示器、AR / VR(擴增實境/虛擬實境)裝置、智慧穿戴裝置等新型設備對各種光源測量需求，如LCD, LED BLU, OLED, MiniLED, microLED等。

PR-655便攜式分光輻射亮度計可很容易的實現與外界通訊。它配備有USB接口和藍牙無線接口（可選）。它提供有文本式遠程模式語法和一個驅動器用于模擬RS232接口從而實現自定義編程來完成特定任務或進入ATE環境。如果您需要PHOTO RESEARCH公司也可提供傳統的RS232接口。

光譜式亮度計容易實現與外界通訊，它配備有USB接口和RS232接口以及加固的附件可增加儀器在惡劣環境中的使用安全。針對產線測試環境的不同（如工作距離、測試區域和系統控制接口等），A-TAKT™系列提供有不同配置，包括光闌、鏡頭的定制（滿足更多的亮度測試動態范圍以及不同工作距離、光斑尺寸的測試需求），易于開發的SDK包可根據不同用戶的ATE系統進行定制等。

此款設備具備了照度連續可調、高低色溫連續可調的功能，高均勻性避免了定位帶來的誤差。

PT-038-PLS 是一款可以提供均勻穩定亮度的積分球標準光源，可用于顯示屏企業、質檢及計量機構、科研院所對亮度計的校正、作實驗用標準源等，具有亮度均勻性好、亮度調節范圍大、穩定度高、便攜等優點。

Spectra-UT 超光譜校準光源提供光譜匹配分辨率。

簡單均勻的亮度和輻射度光源，用于成像和非成像設備的測試和校準

高均勻的光譜輻射光源，可精確再現幾乎所有從390 nm到1000 nm的光譜

LED 面板光源是一款可用于相機模組或傳感器產線校準的光源模擬器。

半導體膜厚測試儀-OPTM 測量目標膜的絕對反射率，實現高精度膜厚和光學常數測試！ （分光干渉法）

LMI系列成像亮度計成像亮度計的分辨率從200萬像素到2000萬像素可選，可滿足不同發光樣品的測試要求。 多次曝光和ND中性濾光片的應用，可實現1000000：1的高對比度； 用戶可通過ROI功能獲取局部圖像的數據信息，排除非目標區域的干擾。

CMI系列成像亮度色度計使用低至室溫-45度的半導體制冷技術，能使測試的噪聲與溫漂降至 低，在低至0.0001cd/m亮度的弱信號都可以可靠的進行分析。使用USB帶寬調制以及搭載了128M DDR緩沖內存，即使低配置的運行環境下也可快速讀出。高動態范圍的曝光以及ND濾鏡實現寬廣的測量范圍，以及高達1000000:1對比度的實現。